Kodu > Tooted > Integreeritud vooluringid (IC) > Logic - Specialty Logic > SN74BCT8373ADW
Küsi hinnapakkumist
Eesti Vabariik
264127

SN74BCT8373ADW

Küsi hinnapakkumist

Palun täitke kõik nõutavad väljad koos oma kontaktandmega.Või saatke meile e -kiri:info@ftcelectronics.com

võrdlushind (USA dollarites)

Laos
75+
$9.233
Päring veebis
Spetsifikatsioonid
  • Osa number
    SN74BCT8373ADW
  • Tootja / bränd
  • Varukogus
    Laos
  • Kirjeldus
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Lead Free status / RoHS staatus
    Plii vaba / RoHS vastavuses
  • ECAD -mudel
  • Toitepinge
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Pakkuja seadme pakett
    24-SOIC
  • Seeria
    74BCT
  • Pakend
    Tube
  • Pakett / kott
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Muud nimed
    SN74BCT8373ADWE4
    SN74BCT8373ADWE4-ND
    SN74BCT8373ADWG4
    SN74BCT8373ADWG4-ND
  • Töötemperatuur
    0°C ~ 70°C
  • Bitide arv
    8
  • Paigaldus tüüp
    Surface Mount
  • Niiskuse tundlikkuse tase (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Tootja Standardne pliiaeg
    6 Weeks
  • Logic Type
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Lead Free status / RoHS staatus
    Lead free / RoHS Compliant
  • Täpsem kirjeldus
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Baasosa number
    74BCT8373
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Kirjeldus: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Tootjad: Luminary Micro / Texas Instruments
Laos

Review (1)

Vali keel

Väljumiseks klõpsake ruumi